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光學(xué)熱膨脹儀在測量上采用了哪些原理？
更新時(shí)間：2020-06-30 點(diǎn)擊次數：7049
光學(xué)熱膨脹儀是指在一定的溫度程序、負載力接近于零的情況下，測量樣品的尺寸變化隨溫度或時(shí)間的函數關(guān)系?？蓽y量固體、熔融金屬、粉末、涂料等各類(lèi)樣品，廣泛應用于無(wú)機陶瓷、金屬材料、塑膠聚合物、建筑材料、涂層材料、耐火材料、復合材料等領(lǐng)域。
測量原理：
光學(xué)熱膨脹儀采用了陰影光的方法。在該方法中，通過(guò)測量CCD探測器上樣品的陰影來(lái)測量一個(gè)方向上樣品的尺寸的大小。 高強度的GaN LED發(fā)出平面光，通過(guò)一個(gè)擴散單元和準直透鏡，產(chǎn)生高度均勻的、短波平面光。該光的一部分被樣品阻擋。有陰影的光束通過(guò)遠心光學(xué)系統進(jìn)行精細處理，并由高分辨率的CCD探測器記錄。數字邊緣檢測自動(dòng)確定陰影的寬度，進(jìn)而測定樣品的尺寸。
測量的優(yōu)勢：
光學(xué)熱膨脹儀測量本質(zhì)上是一個(gè)的測量，不受隨溫度程序變化的系統熱膨脹的影響。 只有樣品經(jīng)歷溫度的變化，光源和檢測器與這些變化相隔離。因此，測量是的，不需要進(jìn)行頂桿式膨脹儀使用中常見(jiàn)的特定測試的校準。
特點(diǎn)：
1、一次分析中可同時(shí)處理2個(gè)樣品模子；
2、自動(dòng)操作，采用圖象技術(shù)分析灰熔點(diǎn)；
3、技術(shù)，可監測、電腦計算、儲存數據和曲線(xiàn)；
4、可在加氧或減氧壓下進(jìn)行，樣品溫度范圍為200~1550℃；
5、被保存的圖象（間隔5°C）可制成熔融動(dòng)畫(huà)。曲線(xiàn)、熔點(diǎn)、溫度爬坡均被打印和保存；
6、可自動(dòng)辨別形狀（柱狀、金字塔形增漲、金字塔坍塌、絲狀），計算機分析相對于初始狀態(tài)的棱角、頂部變化；
7、一旦樣品放入熔爐里，操作者不須動(dòng)手，直到分析結束。結果自動(dòng)保存在數據庫并被打??；您可獲得打印報告、圖片，熔融曲線(xiàn)、數字熔融過(guò)程、分辨率為4℃；
8、該儀器可材料樣品的熱膨脹、熔點(diǎn)測試、灰熔點(diǎn)、熔融特征，儲存樣品的變化圖象（在您感興趣的溫度范圍內）；熔融過(guò)程的圖象（初始點(diǎn)、收縮點(diǎn)、球狀、半球狀、液化）均被儲存，并被自動(dòng)打印，可提供寬度、高度、圓度、溫度爬升等信息；
